當(dāng)前位置:濟(jì)南微納顆粒儀器股份有限公司>>納米激光粒度儀>>動(dòng)態(tài)光散射納米激光粒度儀>> winner802Winner802光子相關(guān)納米粒度儀
動(dòng)態(tài)光散射納米粒度儀采用我公司自主研制的高速數(shù)字相關(guān)器和高性能光電倍增管為核心部件,激光粒度分析儀具有操作簡(jiǎn)便、測(cè)試快捷、分辨率高等特點(diǎn)。同時(shí)激光粒度分析儀還具有不破壞,不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的優(yōu)點(diǎn),是納米顆粒粒度測(cè)試的*產(chǎn)品。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
Winner802光子相關(guān)納米粒度儀是我公司推出的基于動(dòng)態(tài)光散射原理的納米激光粒度儀,同時(shí)也是國(guó)內(nèi)采用數(shù)字相關(guān)器的納米激光粒度儀。本款儀器采用我公司自主研制的高速數(shù)字相關(guān)器和高性能光電倍增管為核心部件,具有操作簡(jiǎn)便、測(cè)試快捷、分辨率高等特點(diǎn)。
適用范圍:Winner802光子相關(guān)納米粒度儀適用于各種納米級(jí)、亞微米級(jí)固體顆粒與乳液
技術(shù)參數(shù):
規(guī)格型號(hào) | Winner802 |
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | GB/T 19627-2005/ISO 13321:1996 GB/T 29022-2012/ISO 22412:2008 |
測(cè)試范圍 | 1-10000nm(與樣品有關(guān)) |
濃度范圍 | 0.1mg/ml--100mg/ml(與樣品有關(guān)) |
準(zhǔn)確度誤差 | <1%(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值) |
重復(fù)性誤差 | <1%(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值) |
激光光源 | 光纖半導(dǎo)體激光器,λ= 532nm, |
探測(cè)器 | 光電倍增管(PMT) |
散射角 | 90o |
樣品池體積 | 4mL |
溫控范圍 | 5-40 ℃(精確到0.1℃) |
測(cè)試速度 | <5 Min |
體積 | 480mm×270mm×170mm |
重量 | 12Kg |
數(shù)字相關(guān)器主要參數(shù) | 自相關(guān)通道:256 基線通道:4 zui小分辨時(shí)間:6ns 延遲時(shí)間:100ns-10ms(可調(diào)) 運(yùn)算速度:162M/S |
產(chǎn)品特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì):
先進(jìn)的測(cè)試原理 | 采用動(dòng)態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù),根據(jù)顆粒在液體中的布朗運(yùn)動(dòng)速度測(cè)定顆粒大小。大小顆粒運(yùn)動(dòng)速度不同,激光照射這些顆粒,不同大小的顆粒將使散射光發(fā)生快慢不同的漲落起伏。光子相關(guān)光譜法就根據(jù)特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。
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*的分辨能力 | 使用PCS技術(shù)測(cè)定納米級(jí)顆粒大小,必須能夠分辨納秒級(jí)信號(hào)起伏。本儀器的核心部件采用我公司研制的CR256數(shù)字相關(guān)器,具有識(shí)別8ns的*分辨能力和*的信號(hào)處理速度。
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高靈敏度和信噪比 | 采用專業(yè)級(jí)高性能光電倍增管(PMT),對(duì)光子信號(hào)具有*的靈敏度和信噪比。
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*的運(yùn)算能力 | 采用自行研制的高速數(shù)字相關(guān)器CR256進(jìn)行數(shù)據(jù)采集與實(shí)時(shí)相關(guān)運(yùn)算,其數(shù)據(jù)處理速度高達(dá)162M,從而實(shí)時(shí)有效地反映顆粒的動(dòng)態(tài)光散射信息。
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分析操作界面:
動(dòng)態(tài)光散射納米粒度儀運(yùn)行程序,進(jìn)入樣品測(cè)試界面。該界面由“樣品信息及測(cè)試條件”、“測(cè)試結(jié)果及粒度分布”、“相關(guān)曲線”及“光子計(jì)數(shù)率”等四個(gè)窗口組成,其中“樣品信息及測(cè)試條件”窗口用來(lái)記錄所測(cè)樣品的信息及測(cè)試條件等;“測(cè)試結(jié)果及粒度分布”窗口顯示測(cè)試數(shù)據(jù)及粒度分布圖;“相關(guān)曲線”窗口中描述數(shù)字相關(guān)器輸出的自相關(guān)曲線;“光子計(jì)數(shù)率”窗口中實(shí)時(shí)地顯示當(dāng)前散射光光子數(shù)。樣品測(cè)試